inreestr.ru — неофициальный каталог и статистика реестра российского ПО. Не сайт Минцифры: данные из открытого реестра.

Программа для комплексной оценки результатов изготовления изделий полупроводниковой микроэлектроники

«Программа для комплексной оценки результатов изготовления изделий полупроводниковой микроэлектроники» включено в реестр российского ПО: реестровая запись № 27057, решение Экспертного совета (протокол № 136пр от 26.02.2025). Правообладатель — ФГУП "РФЯЦ - ВНИИЭФ". Заявление № 321662 от 11.02.2025.

Статус: Включено в реестр · Этап: В реестре · ПО

Номер заявления
№ 321662, зарегистрировано 11.02.2025
Правообладатель
ФГУП "РФЯЦ - ВНИИЭФ"
Реестровая запись
Реестровая запись №27057 от 14.03.2025
Классы ПО
05.07 Специализированное ПО органов исполнительной власти Российской Федерации, государственных корпораций, компаний и юридических лиц с преимущественным участием Российской Федерации для внутреннего использования

О продукте

Программа для комплексной оценки результатов изготовления изделий полупроводниковой микроэлектроники (далее ПО «КОРИМ») предназначена для комплексной оценки и автоматизированного анализа результатов при разработке и совершенствовании комплексов систем автоматизации проектирования-изготовления изделий радиоэлектронной аппаратуры и микроэлектроники. ПО «КОРИМ» содержит: - определения конкретных классов предметной области управления; - модули обработки результатов изготовления партий пластин, кристаллов, микросхем с пооперационной оценкой выхода годных; - модули определения операций с основными источниками брака по результатам накопления статистических данных; - модули автоматизированного анализа результатов функционального контроля с распределением по параметрам брака; - модули расчёта итогового процента выхода годных изделий, отслеживания динамики данного показателя для каждого изделия; - модули формирования отчетных документов; - клиентское ПО в виде исполняемых модулей.

ПО «КОРИМ» обеспечивает автоматизацию следующих функций:  отображение результатов изготовления партий пластин, кристаллов, микросхем с пооперационной оценкой выхода годных после выполнения операций: функционального контроля (ФК) и контроля внешнего вида (ВВ);  фильтрацию результатов за указанный период выбранного типа микросхем;  графическое отображение процента годных кристаллов за указанный период выбранного типа микросхем;  отображение операций партий пластин с выходом бракованных пластин для накопления статистических данных – основных источников брака;  обеспечение возможности сортировки и фильтрации операций партий пластин с выходом бракованных пластин;  автоматизированный разбор файлов результатов функционального контроля;  сохранение результатов функционального контроля в БД;  формирование отчетов результатов функционального контроля с распределением по параметрам брака;  расчёт итогового процента выхода годных изделий, отслеживание динамики данного показателя для указанного изделия по заданному периоду;  вывод на печать таблиц и графиков.

Свидетельство Роспатента
№ 2024681001 от 04.09.2024
Код ОКПД 2
58.29.29 Обеспечение программное прикладное прочее на электронном носителе
ИНН правообладателя
5254001230
Государство регистрации
Россия
Документация
niiis.nnov.ru
Стоимость и лицензия
niiis.nnov.ru

По карточке заявления на сайте реестра, обновлена там 06.02.2025.

Решения Экспертного совета

История заявления

Другие продукты правообладателя

Все заявления — ФГУП "РФЯЦ - ВНИИЭФ"

Похожие продукты в классе 05.07

Весь класс 05.07 Специализированное ПО органов исполнительной власти Российской Федерации, государственных корпораций, компаний и юридических лиц с преимущественным участием Российской Федерации для внутреннего использования

Читайте также

Карточка заявления на сайте реестра