inreestr.ru — неофициальный каталог и статистика реестра российского ПО. Не сайт Минцифры: данные из открытого реестра.

Программа информационной поддержки статистической обработки данных технологического процесса изготовления изделий микроэлектроники

«Программа информационной поддержки статистической обработки данных технологического процесса изготовления изделий микроэлектроники» включено в реестр российского ПО: реестровая запись № 32422, решение Экспертного совета (протокол № 107пр от 19.02.2026). Правообладатель — ФГУП "РФЯЦ - ВНИИЭФ". Заявление № 348933 от 24.01.2026.

Статус: Включено в реестр · Этап: В реестре · ПО

Номер заявления
№ 348933, зарегистрировано 24.01.2026
Правообладатель
ФГУП "РФЯЦ - ВНИИЭФ"
Реестровая запись
Реестровая запись №32422 от 05.03.2026
Классы ПО
05.07 Специализированное ПО органов исполнительной власти Российской Федерации, государственных корпораций, компаний и юридических лиц с преимущественным участием Российской Федерации для внутреннего использования

О продукте

Программа информационной поддержки статистической обработки данных технологического процесса изготовления изделий микроэлектроники (далее– ПО «СОДТП») предназначена для проведения статистической коррекции технологического процесса с целью повышения качества изготовления изделий полупроводниковой микроэлектроники, для увеличения процента выхода годных изделий микроэлектроники. ПО «СОДТП» содержит: - определения конкретных классов предметной области управления; - модули загрузки и обновления информации из БД Комплекса «Кремний»; - модули авторизации, просмотра и добавления новых пользователей ПО «СОДТП»; - модули отображения активных пользователей и истории запуска ПО «СОДТП; - модули формирования отчетных документов и диаграмм; - клиентское ПО в виде исполняемых модулей.

ПО «СОДТП» обеспечивает автоматизацию следующих функций:  автоматизированный разбор файлов результатов измерений электрофизических параметров (ЭФП) тестовых элементов, полученных при изготовлении пластин, с сохранением результатов в БД;  обработку и анализ электрофизических параметров (ЭФП) тестовых элементов при изготовлении пластин;  построение диаграмм распределения (в формате «тепловых карт») значений параметров, измеряемых при контроле ЭФП;  автоматизированный разбор файлов результатов функционального контроля (ФК) при изготовлении микросхем перед выполнением технологической операции «Электротермотренировка микросхем» (ЭТТ) для микросхем в разрезе партий с сохранением в БД;  предварительную обработку полученных данных из файлов измерений для соответствия входу модели;  проектирование и разработку модели машинного обучения для анализа и прогнозирования результатов измерений, полученных после выполнения операции ЭТТ;  обучение и последующее дообучение модели с использованием подготовленных данных из файлов измерений, полученных перед выполнением ЭТТ;  разработку механизма обмена информацией между моделью машинного обучения и интерфейсом пользователя.  формирование отчета измерений ЭФП на пластинах в разрезе партий, отчета прогноза процента выхода годных изделий микроэлектроники в разрезе партий.

Свидетельство Роспатента
№ 2025691128 от 12.11.2025
Код ОКПД 2
58.29.29 Обеспечение программное прикладное прочее на электронном носителе
ИНН правообладателя
5254001230
Государство регистрации
Россия
Документация
niiis.nnov.ru
Стоимость и лицензия
niiis.nnov.ru

По карточке заявления на сайте реестра, обновлена там 14.01.2026.

Решения Экспертного совета

История заявления

Другие продукты правообладателя

Все заявления — ФГУП "РФЯЦ - ВНИИЭФ"

Похожие продукты в классе 05.07

Весь класс 05.07 Специализированное ПО органов исполнительной власти Российской Федерации, государственных корпораций, компаний и юридических лиц с преимущественным участием Российской Федерации для внутреннего использования

Читайте также

Карточка заявления на сайте реестра